科技產物——小巧玲瓏形涂層測厚儀

2010-06-29

            漆膜厚度是涂裝施工中首要的控制因素，據統計，生產中涂層的外觀缺陷，如流掛、漆層薄、露底色等有超過一半以上是因為漆層膜厚控制不當造成的。涂膜的外觀指標如光澤、色差、桔皮、 DOI等也都需要以膜厚控制為基礎。除了對涂裝質量的影響外，涂裝成本的控制也需要靠控制漆膜厚度來實現，合適的漆膜厚度不僅節約了涂料用量，而且有助于涂裝質量的穩定。統計顯示，采用同樣的噴涂設備時，是否精確控制膜厚，所消耗的涂料用量相差在25%以上。
    顧名思義，涂層測厚儀是精確控制膜厚的一種儀器。涂層測厚儀可以分為3種測量方式:

    電磁式：可測量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鐵或鋼）

    高周波式：可測量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鋁、銅和黃銅）

    雙制式：兼具以上兩種功能 

    ·世界新科技,手機外形,小測量面積

    ·菜單操作,分辨率0.1?m,兩類基休自動識別

漆膜厚度是涂裝施工中首要的控制因素，據統計，生產中涂層的外觀缺陷，如流掛、漆層薄、露底色等有超過一半以上是因為漆層膜厚控制不當造成的。涂膜的外觀指標如光澤、色差、桔皮、 DOI等也都需要以膜厚控制為基礎。除了對涂裝質量的影響外，涂裝成本的控制也需要靠控制漆膜厚度來實現，合適的漆膜厚度不僅節約了涂料用量，而且有助于涂裝質量的穩定。統計顯示，采用同樣的噴涂設備時，是否精確控制膜厚，所消耗的涂料用量相差在25%以上。
    顧名思義，涂層測厚儀是精確控制膜厚的一種儀器。涂層測厚儀可以分為3種測量方式:

    電磁式：可測量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鐵或鋼）

    高周波式：可測量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鋁、銅和黃銅）

    雙制式：兼具以上兩種功能

    ·世界新科技,手機外形,小測量面積

    ·菜單操作,分辨率0.1?m,兩類基休自動識別

    ·量程:0-1500?m,0-10mm,90?直角探頭

    ·九種規格,統計值在線顯示

    ·德國PHYNIX公司制造

    · Surfix(B)FN 型適合測量金屬基體上的涂鍍層、氧化膜等。
    · Surfix(B)F 型適合鋼鐵基體上的涂鍍層厚度測量。
    · Surfix(B)N 型適合有色金屬材上的膜厚測量。

    * 字母B代表是無數據統計的型號

    產品參數

    品牌  PHYNIX 
    型號  (B)FN、(B)F、(B)N 
    產地  德國 
    基本參數 
    測量范圍 0-1500?m 
    重量 205g 
    外形尺寸 137X66X23mm 

    ·量程:0-1500?m,0-10mm,90?直角探頭

    ·九種規格,統計值在線顯示

    ·德國PHYNIX公司制造

    · Surfix(B)FN 型適合測量金屬基體上的涂鍍層、氧化膜等。
    · Surfix(B)F 型適合鋼鐵基體上的涂鍍層厚度測量。
    · Surfix(B)N 型適合有色金屬材上的膜厚測量。

    * 字母B代表是無數據統計的型號

    產品參數

    品牌  PHYNIX 
    型號  (B)FN、(B)F、(B)N 
    產地  德國 
    基本參數 
    測量范圍 0-1500?m 
    重量 205g 
    外形尺寸 137X66X23mm 

漆膜厚度是涂裝施工中首要的控制因素，據統計，生產中涂層的外觀缺陷，如流掛、漆層薄、露底色等有超過一半以上是因為漆層膜厚控制不當造成的。涂膜的外觀指標如光澤、色差、桔皮、 DOI等也都需要以膜厚控制為基礎。除了對涂裝質量的影響外，涂裝成本的控制也需要靠控制漆膜厚度來實現，合適的漆膜厚度不僅節約了涂料用量，而且有助于涂裝質量的穩定。統計顯示，采用同樣的噴涂設備時，是否精確控制膜厚，所消耗的涂料用量相差在25%以上。
    顧名思義，涂層測厚儀是精確控制膜厚的一種儀器。涂層測厚儀可以分為3種測量方式:

    電磁式：可測量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鐵或鋼）

    高周波式：可測量金屬底材上的非磁性鍍層（底材為鋁、銅和黃銅）

    雙制式：兼具以上兩種功能

     ·世界新科技,手機外形,小測量面積

    ·菜單操作,分辨率0.1?m,兩類基休自動識別

    ·量程:0-1500?m,0-10mm,90?直角探頭

    ·九種規格,統計值在線顯示

    ·德國PHYNIX公司制造

    · Surfix(B)FN 型適合測量金屬基體上的涂鍍層、氧化膜等。
    · Surfix(B)F 型適合鋼鐵基體上的涂鍍層厚度測量。
    · Surfix(B)N 型適合有色金屬材上的膜厚測量。